提交检索：EI Compendex、Scopus往届均已检索，快至会后3个月检索！
第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议（MVAID 2026）定于2026年4月24日至26日在武汉举行。MVAID 2026将围绕“机器视觉”与“自动识别与检测”等相关最新研究领域，为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验、扩大专业网络、面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台，探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向，以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用，欢迎各位领域内专家学者投稿参会！
盛步云 教授，武汉理工大学（中国机械工程学会设计分会理事，湖北省机电工程学会副会长）
深度学习与神经网络架构优化（如Transformer、CNN、GNN在视觉中的应用）、自监督/半监督/弱监督/无监督视觉表征学习、小样本/零样本学习与域自适应
视觉-语言多模态融合与理解（VLM、图文检索、视觉问答）、3D场景理解与重建（点云处理、神经辐射场、SLAM）
目标检测与实例分割（实时检测、小目标检测、密集场景）、人脸识别、行人重识别与行为识别
图像增强、去模糊、超分辨率与修复、视频内容分析与摘要、生成模型在视觉中的应用（扩散模型、GANs用于数据增强、图像生成）、计算摄影与图像质量评估
6.请到会议网站下载模板排版，排版后论文不得少于5页。投稿须知随论文模板提供下载，请务必在进行缴费注册前详细阅读投稿须知。
专属优惠：主协办单位师生投稿填写专属邀请码立享优惠，联系会议李秘书（），填写投稿邀请码【L804】享受优先审核！